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Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀 COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。

Couloscope CMS2電位差臺式測厚儀*現貨 CouloScope CMS（庫侖測量系統）使用庫侖方法測量鍍層厚度。新的設計中配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統，新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺，以及SPC統計能力。該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。

德國進口DualScope FMP150霍爾效應測厚儀 DualScope FMP150進一步配備了第三種測量原理，即磁性法。它除了采用磁感應法和電渦流法測量涂鍍層厚度外，還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。

現貨DualScope FMP100測厚儀功能升級款 DUALSCOPE FMP100涂層測厚儀自動識別基材，將兩種測量法相結合（磁感應/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測

德國DeltaScope FMP30測厚儀磁感應加強款 DELTASCOPE FMP30用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。ISOSCOPE FMP30用于測量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度；用于測量鋁基材上陽極氧化層的厚度，也用于測量導電層在非導電基材上的厚度。