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測(cè)厚儀DualScope FMP40鍍層厚度測(cè)量 搭配電腦軟件，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸。繪制直方表，*顯示測(cè)量數(shù)據(jù)。 FISCHER 數(shù)據(jù)傳輸軟件 PC-DATEX 操作手冊(cè) version 1.7 菲希爾DUALSCOPE FMP40測(cè)厚儀膜厚儀This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron

Fischer臺(tái)式測(cè)厚儀 MMS PC2 當(dāng)涉及到鍵盤(pán)時(shí)，易于使用，并且LCD顯示區(qū)域很大。 其操作系統(tǒng)是Windows®CE。 有一個(gè)8個(gè)插件測(cè)試模塊可以幫助配置多個(gè)儀器。 用于鋼板電鍍和涂料制造，鋁上陽(yáng)極氧化涂層，納米涂層，

Fischer電導(dǎo)率Sigmascope SMP350測(cè)量?jī)x 我們的電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x器Sigmascope SMP350設(shè)計(jì)，準(zhǔn)確準(zhǔn)確地測(cè)量金屬導(dǎo)體的導(dǎo)電性。 我們的sigmascope SMP350也用于評(píng)估各種熱處理材料的硬度和強(qiáng)度。 導(dǎo)電性是提供有關(guān)金屬導(dǎo)電能力的信息的基本材料特性。 SIGMASCOPE SMP350用于測(cè)量有色金屬和合金的電導(dǎo)率。

FischerScope MMS PC2測(cè)厚儀 如在印制線路板消費(fèi)中的鍍層測(cè)厚范疇，能夠在FISCHERSCOPE® MMS® PC2主機(jī)中裝置模塊BETASCOPE®, SIGMASCOPE®/PHASCOPE®, SR-SCOPE® 和PERMASCOPE®。這樣的儀器配置能夠完成以下功用和應(yīng)用： 納米薄膜（抗指紋膜）， 太陽(yáng)能電池薄膜（玻璃上的CdTe層）接插件上的金鍍層，焊盤(pán)焊帶上的錫鉛

Fischer PHASCOPE PMP10磁性測(cè)厚儀 PHASCOPE PMP10是一款根據(jù)相位感度渦流方法快速，簡(jiǎn)便和現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)量鍍層厚度的手提式儀器。通過(guò)選擇合適的測(cè)量探頭，甚至可以達(dá)到非接觸式的測(cè)量。 取決于不同的測(cè)量探頭，儀器可以工作在60 kHz，240 kHz或1.25 MHz的頻率上。